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JCI-155電暈放電法靜電衰減分析

日期：2014-02-18瀏覽：1998次

電暈放電法靜電衰減分析儀Electrostatic Charge Decay Time Analyser JCI-155v6
由英國(guó)Chilworth公司開(kāi)發(fā)制造. Chilworth是的爆炸/燃燒危害檢測(cè)機(jī)構(gòu), 同時(shí)也是相關(guān)專業(yè)儀器和設(shè)備的制造商. JCI-155 靜電衰減分析儀經(jīng)歷了3代的發(fā)展過(guò)程, 從zui初的155v4 到155v5, 型號(hào)為155v6.

JCI-155靜電衰減儀可對(duì)固體,粉體和液體材料進(jìn)行監(jiān)測(cè), 軟件功能強(qiáng)大, 是美國(guó)國(guó)家航空和宇宙航行局(NASA)采用產(chǎn)品. 同時(shí)JCI-155v6衰減分析儀還是IEC 61340-2-1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的模板設(shè)備.

JCI 155v6用于測(cè)試材料的靜電衰減時(shí)間和電容負(fù)載
可直接將JCI 155v6 放置在測(cè)試材料上測(cè)量
測(cè)量范圍: 10毫秒-99小時(shí)
測(cè)試反應(yīng)時(shí)間: 10毫秒
測(cè)試電壓(電暈放電): 0-9.9kV(可以選擇正負(fù)極性)
衰減測(cè)試比例: 1%-99%的衰減時(shí)間
同時(shí)測(cè)量環(huán)境溫濕度
特別設(shè)計(jì)氣閘效應(yīng), 消除殘留空氣離子干擾
高精度靜電壓測(cè)試探頭
采用配套JCI176樣品臺(tái)可測(cè)量轉(zhuǎn)移到測(cè)試料樣上的電量, 并計(jì)算出電容負(fù)載
采用配套JCI173樣品杯可以測(cè)量粉體和液體的靜電衰減期
配套JCI-Graph軟件在電腦中儲(chǔ)存分析數(shù)據(jù),衰減曲線和形成報(bào)告

訂購(gòu)編號(hào)   描述
JCI155v6   包含以下物品
    測(cè)試儀
    JCI176樣品臺(tái), 用于測(cè)試平面材料, 可以測(cè)試材料電荷負(fù)載
    JCI173樣品杯, 用于測(cè)試粉體和液體
    測(cè)試儀和樣品臺(tái)連接纜線, 1條
    接地線, 2條
    長(zhǎng)USB數(shù)據(jù)線, 1條, 用于連接儀器和電腦
    短USB數(shù)據(jù)線, 1條, 用于外接U盤
    配套軟件
    校正書和說(shuō)明書

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